性能特點：
u 50 MHz 測試頻率
u 608 個 I/O 通道
u 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
u 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
u 平行測試可達 32 devices
u Real Parallel Trim/Match 功能
u 直接裝設 SC312, TS670 針測卡
u 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
u Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
u SCAN test 選配 (512M)
u ALPG test 選配供記憶體用
u STDF 工具支援
u 人性化 Windows XP 操作環境
u CRAFT C/C++ 程式語言
u 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
u 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
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Model
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Description
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3360
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VLSI 測試系統
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