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产品名称:
TO-CAN封装外观检测系统
产品型号:
Model7925 说明书 参数 上海价格
产品展商:
其它品牌
简单介绍
TO-CAN封装外观检测系统Model7925 可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合**等缺陷具备自动对焦功能，可克服载盘制造公差内的高度差异，检测完成后可依设定规格挑拣**品；欢迎选购Model7925参数价格。
TO-CAN封装外观检测系统的详细介绍
功能特性：
- 可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合**等缺陷
- 具备自动对焦功能，可克服载盘制造公差内的高度差异
- 检测完成后可依设定规格挑拣**品
- 提供比人工目检更佳的可靠度及重复性
- 每小时*高可检测3600颗待测物
- 自动化上下料盘，减少人员上下料时间
- 提供完整的检测资料，包含检测数据及缺陷影像以供工程分析
技术参数：n Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系统，可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配置，可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不相同，Chroma 7925配置了自动对焦系统，可自动计算待测物之对焦距离并进行补偿，以确保可以取得清楚的检测影像。
n 使用者可以自由设定良品与**品之规则及缺陷编码，并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑拣及下片均为全自动化流程，大幅降低人员操作及制程管理发生错误的机会。检测完成后，工程师可以取得详细的缺陷量化数据，以及储存缺陷影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检测资料，使用Chroma 7925所取得之资料，将有助于分析制程问题，并进一步提升产品良率。
选购附件：
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Model
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Description
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7925
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TO-CAN 封装外观检测系统
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