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SDY-5四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,從而提高了測量結果的準確度;歡迎選購SDY-5四探針測試儀。
RTS-1345自動四探針測試系統是運用四探針測量原理的多用途綜合全自動測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器;歡迎選購RTS-1345自動四探針測試系統。
HP系列四探針探頭,是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻;歡迎選購HP-503 HP-504參數價格。
AT520L電池內阻測試儀,是一種精簡型智能電池內阻測試儀。可以**測試電池內部電阻和電池電壓。電阻測量范圍10μΩ~32Ω 電壓測量范圍1mV~60VDC,完全可以滿足電池生產廠家對電池的檢驗;儀器量販大量供應,歡迎選購AT520L參數價格。
RTS-7二探針測試儀;電阻率:10-4~105 Ω.cm; 分辨率:10-3Ω.cm;是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器;歡迎選購RTS-7參數價格。
FT系列四探針探頭;探針間距:1±0.010mm;探針材料:高速鋼或碳化鎢;探針壓力:5~8牛頓或12~16牛頓;是采用綜合性能優異的航空工程塑料、機械結構優良彈**、耐磨和硬度高的探針研制的測量數據穩定、可靠、準確度高、耐用性能好四探針探頭;歡迎選購FT-201 FT-202 FT-203 FT-204優惠價格。
RTS-7二探針測試儀,測量范圍: 電阻率:10-4~105 Ω.cm; 分辨率:10-3Ω.cm;是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器;歡迎選購RTS-7參數價格。
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻;歡迎選購ST-20參數價格。
CV-2000電容電壓特性測試儀,作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應(勢壘電容)。加正向偏壓時,PN結勢壘區變窄,勢壘電容變大;加反向偏壓時,PN結勢壘區變寬,勢壘電容變小;歡迎選購cv 2000參數價格。
PN-30導電類型鑒別儀采用整流法(也稱三探針法)和溫差法(也稱冷熱探筆法來判斷單晶(或多晶)硅的導電類型(N型或P型),用N型和P型顯示屏直接顯示單晶(或多晶)導電類型;歡迎選購PN-30優惠價格。
JX2008硅材料綜合測試儀,具有電阻率及型號測試功能,適合分選型號,并能夠測試并顯示出電阻率的值;儀器量販大量供應,可工廠直接下單,交貨迅速,歡迎選購JX2008參數價格。
KDY-1四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造,并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進;儀器量販大量供應,可工廠直接下單,交貨迅速,歡迎選購KDY-1 參數價格。
四探針探頭HP501上海價格HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻;歡迎選購HP501 HP502 HP503價格*低。
四探針測試儀TH2661參數價格,測試參數:電壓,電阻率,方阻,電阻,基本準確度:0.5%,恒流源:100nA,1uA,10uA,100uA,1mA,10mA ,儀器量販大量供應,可工廠直接下訂單,交貨迅速,歡迎選購四探針測試儀TH2661說明書。
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[2023.12.22] 電感測試儀簡介
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