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产品名称:
ST-20掌上型方块电阻测试仪
产品型号:
ST-20 说明书 参数 上海价格
产品展商:
其它品牌
简单介绍
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻；欢迎选购ST-20参数价格。
ST-20掌上型方块电阻测试仪的详细介绍
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1
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采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
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2
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低功耗
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3
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采用单个电池供电，带电池欠压指示
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4
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仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm
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5
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特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
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6
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探头带抗静电模块
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技术指标：
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测量范围
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基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口)
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测量不确定度
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≤5%
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探针规格
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探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
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恒流源
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测量过程误差：≤±0.8%
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电源
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9V叠层电池1节
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咨询专线:
现货供应，在订货前*好还是致电我们，以确定货期和数量。
咨询电话：021-53084217 / 8 / 9 13601613296
专线：18616355232 包小姐
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