數字電橋如何測量兆歐級高阻抗電阻

數字電橋如何測量兆歐級高阻抗電阻


*近有一些客戶反映,用不同的品牌的LCR數字電橋或者同一品牌的lcr電橋的不同型號對兆歐級高阻抗電阻測量時,結果偏差很大,甚至是安捷倫,同惠的產品也是這樣。經過我們儀器量販(同惠上海總代)的工程師查閱了技術文獻,走訪了一些遇到這樣問題的客戶,我們給出了一下的解釋,基本解決了LCR數字電橋如何測量兆歐級高阻抗電阻的問題。
 
如下圖所示,高值電阻包含一個寄生低pF 級電容,這個電容與電阻是并聯:
 
 
儀器量販確認當使用 lcr數字電橋測量高值電阻時,應選擇 Cp - Rp 測量功能(并聯等效電路模式)使測量電路模式與電阻的實際等效電路相匹配,如下圖所示。
 
  上圖中,Xp 代表寄生電容在測試頻率上的電抗(電容性阻抗)。公式“D”代表電阻在測試頻率上的損耗因數。
 
  如果使用 R - X 測量功能來測量電阻,那么 E4980A/ 4284A 采用如下所示的串聯等效電路:
 
串聯等效電路模式(R - X 測量中)不同于高值電阻的實際并聯等效電路。因此, R - X 模式中的被測電阻與實際的并聯電阻(Rp)不一致。從理論上講,串聯電阻(Rs)與并聯電阻(Rp)的關系可用等式 Rs = Rp x D2 / (1 + D2) 表示。此處,串聯和并聯等效電路的損耗因數(D)值是相等的:


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