CV-2000型 半導體器件C-V特性測試儀
l 作為組成半導體器件的基本結構的PN 結具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN 結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN 結勢壘區變寬，勢壘電容變小。
l CV-2000 型電容電壓特性測試儀是測試頻率為1MHz 的智能化數字的電容測試儀器，專用于測試半導體器件PN 結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。
l 面板上的發光二極管指示儀器的工作狀態，用數碼管組成的顯示板，將被測元件的數值，小數點清晰地顯示出來。儀器有較高的分辨率，電容量是四位讀數，可分辮到0.01pF，偏置電壓分辨力為0.1V，漏電流分辨力為0.01uA。
l 儀器配有專用CV-2000 型測量座，接插元件靈活，方便可靠。
技術參數:
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測試信號頻率 |
1.000MHz±0.01% |
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測試信號電壓 |
小于或等于100mVrms |
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電容測量范圍 |
1.00pF～1000pF |
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測試精度 |
±5.0%±2 字 |
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直流偏壓 |
*大100V |
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供電電源 |
交流電壓：220V±5%；頻率： 50Hz±5%；消耗功率：不大于40W； |
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工作環境 |
溫度：0—40℃；濕度：20%~90%RH 40 |
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