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產品名稱:
HP系列四探針探頭
產品型號:
HP-501 HP-502 HP-503 HP-504 說明書 參數 上海價格
產品展商:
其它品牌
簡單介紹
HP系列四探針探頭，是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻；歡迎選購HP-503 HP-504參數價格。
HP系列四探針探頭的詳細介紹
² 特性及規格：
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1
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特制之手握式探筆
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2
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球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
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3
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探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞
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4
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探頭使用壽命長
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5
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探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
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² 可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：
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型號
(Model)
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曲率半徑
(Radius)
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壓力
(loads)
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探針間距
(spacing)
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探針排列
(Arrangement)
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HP-501
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0.5mm
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100g
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3.8mm
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直線
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HP-502
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0.75mm
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100g
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3.8mm
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直線
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HP-503
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0.1mm
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150g
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1mm
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直線
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HP-504
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0.5mm
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100g
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1.59mm
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直線
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