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SDY-5四探针测试仪采用了四探针双位组合测量技术,利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,从而提高了测量结果的准确度;欢迎选购SDY-5四探针测试仪。
RTS-1345自动四探针测试系统是运用四探针测量原理的多用途综合全自动测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器;欢迎选购RTS-1345自动四探针测试系统。
HP系列四探针探头,是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻;欢迎选购HP-503 HP-504参数价格。
AT520L电池内阻测试仪,是一种精简型智能电池内阻测试仪。可以精确测试电池内部电阻和电池电压。电阻测量范围10μΩ~32Ω 电压测量范围1mV~60VDC,完全可以满足电池生产厂家对电池的检验;仪器量贩大量供应,欢迎选购AT520L参数价格。
RTS-7二探针测试仪;电阻率:10-4~105 Ω.cm; 分辨率:10-3Ω.cm;是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器;欢迎选购RTS-7参数价格。
FT系列四探针探头;探针间距:1±0.010mm;探针材料:高速钢或碳化钨;探针压力:5~8牛顿或12~16牛顿;是采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹簧片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头;欢迎选购FT-201 FT-202 FT-203 FT-204优惠价格。
RTS-7二探针测试仪,测量范围: 电阻率:10-4~105 Ω.cm; 分辨率:10-3Ω.cm;是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器;欢迎选购RTS-7参数价格。
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻;欢迎选购ST-20参数价格。
CV-2000电容电压特性测试仪,作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容)。加正向偏压时,PN结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压时,PN结势垒区变宽,势垒电容变小;欢迎选购cv 2000参数价格。
PN-30导电类型鉴别仪采用整流法(也称三探针法)和温差法(也称冷热探笔法来判断单晶(或多晶)硅的导电类型(N型或P型),用N型和P型显示屏直接显示单晶(或多晶)导电类型;欢迎选购PN-30优惠价格。
JX2008硅材料综合测试仪,具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值;仪器量贩大量供应,可工厂直接下单,交货迅速,欢迎选购JX2008参数价格。
KDY-1四探针电阻率测试仪是严格按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进;仪器量贩大量供应,可工厂直接下单,交货迅速,欢迎选购KDY-1 参数价格。
四探针探头HP501上海价格HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻;欢迎选购HP501 HP502 HP503价格蕞低。
四探针测试仪TH2661参数价格,测试参数:电压,电阻率,方阻,电阻,基本准确度:0.5%,恒流源:100nA,1uA,10uA,100uA,1mA,10mA ,仪器量贩大量供应,可工厂直接下订单,交货迅速,欢迎选购四探针测试仪TH2661说明书。
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