性能指标：
Ø 可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05-1000Ω·cm。
Ø 实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104Ω·cm。
Ø 可测线度大于5mm的任意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制。
Ø 显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号。
Ø 探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整。
Ø 外型尺寸：210 100 230（宽 高 深，单位mm）。
Ø 重量：约3kg。
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