性能特点：
u 50 MHz 测试频率
u 608 个 I/O 通道
u 8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
u 弹性化硬体结构 (互换式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
u 平行测试可达 32 devices
u Real Parallel Trim/Match 功能
u 直接装设 SC312, TS670 针测卡
u 测试程式/pattern 转换器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
u Analog PE card 选配 (16 ~24 bits)
u SCAN test 选配 (512M)
u ALPG test 选配供记忆体用
u STDF 工具支援
u 人性化 Windows XP 操作环境
u CRAFT C/C++ 程式语言
u 即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
u 多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
选购附件：
|
Model
|
Description
|
|
3360
|
VLSI 测试系统
|
咨询专线:
在订货前*好还是致电我们，以确定货期和数量。
咨询电话：021-530842187 -111
专线：18616355232 / 18602120232 包小姐/景小姐
本标题页面：VLSI测试系统Model3360
