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產品名稱:
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
產品型號:
ST-20 說明書 參數 上海價格
產品展商:
其它品牌
簡單介紹
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻；歡迎選購ST-20參數價格。
ST-20掌上型方塊電阻測試儀的詳細介紹
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1
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采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
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2
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低功耗
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3
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采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
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4
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儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
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5
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特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
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6
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探頭帶抗靜電模塊
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技術指標：
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測量范圍
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基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
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測量不確定度
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≤5%
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探針規格
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探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
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恒流源
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測量過程誤差：≤±0.8%
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電源
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9V疊層電池1節
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